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SAIKE2010精密零件测量系统

产品/技术名称:精密零件显微测量系统 *备注:赛克数码精密零件显微测量系统SKD-CL2是一套全新的实用型测量与测绘系统,它应用了独有的同步倍率校正技术(专利), 可以测量在75*75mm范围内精密零件局部(15*15mm).测量精度均为um级(0.01mm*15mm),各种形状精密零件局部部位. 调节倍率在20x-75x之间,解析度0.001mm,采用独特的设计思路,达到业内领先的技术水平,是针对精密零件制造业日益精湛的加工工艺所带来的精确计量需求开发而成. 目前已经建立起完善的网络营销渠道和售后服务,产品客户包括了日本、韩国、新加坡、台湾、香港以及国内的知名厂商和科研单位等,拥有广阔的市场前景. 我们欢迎各地经销商真诚合作!
发布日期: 2004年09月13日
有效期: 2008年07月06日
产品规格: SAIKE2010
产品数量: 批量
价格说明: 面议
包装规格: 标准包装